正置金相顯微鏡和倒置金相顯微鏡應(yīng)用上的區(qū)別
正置式和倒置式的區(qū)別簡(jiǎn)單的說(shuō)就是，正置的樣品放在下面，倒置的樣品放在上面。正置的物鏡向下，倒置的物鏡向上。
倒置金相顯微鏡 ，由于試樣觀察面向下與工作臺(tái)表面重合，觀察物鏡位于工作臺(tái)的下面，向上觀察，這種觀察形式不受試樣高度的限制，在制備試樣時(shí)只要一個(gè)觀察面平整，因此工廠實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)院校教學(xué)普遍選用。倒置金相顯微鏡底座支承面積較大，重心較低，安全平穩(wěn)可靠，目鏡與支承面呈45℃傾斜，觀察舒適。
正置金相顯微鏡 具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，除了對(duì)20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，因?yàn)榉先说娜粘Ａ?xí)慣，因此更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。正置金相顯微鏡在觀察時(shí)成像為正像，這對(duì)使用者的觀察與辨別帶來(lái)了極大的方便。除了對(duì)20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，大于3微米小于20微米觀察目標(biāo)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。